常温BIT测验老化柜是用于固态硬盘（SSD）常温读写测验（BurnInTest，BIT）的试验设备，老化柜能够给我们供给固态硬盘运转所需求的安稳温度，为BIT测验供给确保。

  4、机柜顶部配有220V散热电扇，背板为高密度六角单开网孔门，通风率≥75%，门和侧板为可拆卸式结构，确保测验电脑运转环境杰出。

  SSD测验在实验室常温40℃的环境下进行的BIT测验，依据JEDEC 218的要求，整个测验进程所需求的测验时长为1000h，在刚发动开端测验时，BMC经过MI协议获取的SSD的NAND温度值为40℃左右，当测验时长到达1000小时，NVME SSD就完结了在常温环境下进行BIT的测验。

  如有常温BIT测验老化柜的选型疑问，能够拜访“环仪仪器”官网，咨询相关技能人员。

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